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Curso

CURSO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN APLICADA A LA CIENCIA DE MATERIALES

  • Desde: 15/11/16
  • Hasta: 18/11/16
  • Campus de Valencia
  • Idioma: Castellano
  • Presencial

Preinscripción desde el 26/10/16

Promovido por:
Dpto. de Ingeniería Mecánica y de Materiales

Responsable de la actividad:

Inscripción online cerrada

Modalidad

Presencial Online Emisión en directo

12 horas

0 horas

0 horas
Horario

Mañana
Martes 15 noviembre: 11,00:14:00
Miércoles 16 noviembre: 11,00:14:00
Jueves 17 noviembre: 11,00:14:00
Viernes 18 noviembre: 9,00:12:00

Lugar de impartición
Aula 031, Edifico 5N
Certificación

Aprovechamiento

Modalidad

PRESENCIAL

Curso

2016-2017

ECTS

1,2

Campus

Valencia

12 h

Presenciales

0 h

Online

Ver condiciones de la actividad
Precio Colectivo
5,5 € Público en general 
5,50 € - Público en general

Objetivos

Trabajar con el microscopio electrónico de transmisión del Serviico de Microscopia Electrónica de la UPV.
Obtener imágenes de alta resolución.
Obtener y analizar los patrones de difración.
Conocer tecnicas avanzadas de difracción.

Acción formativa dirigida a

Estudiantes de master o doctorandos que requieran de la microscopía para sus análisis en ciencia de materiales

Profesores

  • Conrado Ramos Moreira Afonso Profesional del sector
  • Pablo Javier Bereciartua Pérez Profesional del sector

Metodología didáctica y sistemas de evaluación

Clases teóricas expositivas con aclaración de preguntas en cualquier momento, y especialmente al finalizar cada sesión de dos o tres horas.

Temas a desarrollar

Bloque 1. Introducción a la Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) (Prof. Pablo J. Bereciartua Pérez)
1. Microscopio óptico vs. electrónico
2. Interacción de los electrones con la materia
3. Partes del microscopio: fuente, lentes, aperturas, deflectores, detectores
Bloque 2. Formación de las imágenes en microscopía electrónica de transmisión y STEM (Prof. Conrado Ramos Moreira Afonso)
1. Imágenes en modo TEM: Bright Field (BF) y Dark Field (DF).
2. Imágenes en modo STEM. Bright Field (BF), Annular Dark Field (ADF) y High Angular Annular Dark Field (HAADF).
3. Estudios de casos microscopía electrónica de Transmisión (TEM) aplicada a la Ciencia de Materiales.
Bloque 3. Microscopía analítica (AEM) (Prof. Conrado Ramos Moreira Afonso)
1. Microanálisis de rayos-X (EDS - Energy Dispersive Spectroscopy).
2. Microscopía Analítica (AEM): STEM + EDS.
3. Estudios de aplicación de la microscopía analítica.
Bloque 4. Difracción de electrones (Prof. Pablo J. Bereciartua Pérez)
1. Difracción de electrones.
2. Interpretación de patrones de difracción.
3. Construcción de mapas de difracción (ASTAR)
4. Aplicación de la difracción de electrones en Ciencia de materiales.
Bloque 5. Microscopía de alta resolución (Prof. Conrado Ramos Moreira Afonso)
1. Microscopia Electrónica de Transmisión de Alta Resolución (HRTEM).
2. El trabajo con portamuestras de doble inclinación.
3. Estudio de casos microscopía electrónica de Transmisión de alta Resolución (HRTEM) aplicada a la Ciencia de Materiales.

Inscripción online cerrada

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